論文誌

[1] 吉岡 遼, 肥後 芳樹, 柗本 真佑, 楠本 真二, 伊藤 信治, 張潘 タンフエン, "実行経路に基づく欠陥限局手法において例外処理を検査するテストが及ぼす影響の調査," 情報処理学会論文誌, volume 65, number 9, pages 1411-1422, 2024年9月.

表彰・受賞

[1] 堀 翔太, 柗本 真佑, 肥後 芳樹, 楠本 真二, 安田 和矢, 伊藤 信治, 張潘 タンフエン, "令和5年度電子情報通信学会ソフトウェアサイエンス研究会研究奨励賞," , 2024年3月.

[2] 吉岡遼, 肥後芳樹, 柗本真佑, 楠本真二, 伊藤信治, Phan Thi Thanh Huyen, "善吾賞," , 2024年3月.

[3] 吉岡遼, 肥後芳樹, 柗本真佑, 楠本真二, 伊藤信治, Phan Thi Thanh Huyen, "ソフトウェアエンジニアシンポジウム2023最優秀論文賞," , 2023年8月.

国際会議

[1] Shota Hori, Shinsuke Matsumoto, Yoshiki Higo, Shinji Kusumoto, Kazuya Yasuda, Shinji Itoh, and Phan Thi Thanh Huyen, "The Effects of Semantic Information on Llm-Based Program Repair," 25th International Conference on Product-Focused Software Process Improvement (PROFES2024), pages 377-385, November 2024. [draft.pdf]

[2] Haruka Yoshioka, Yoshiki Higo, Shinsuke Matsumoto, Shinji Kusumoto, Shinji Itoh, and Phan Thi Thanh Huyen, "Do Exceptional Behavior Tests Matter on Spectrum-Based Fault Localization?," In Product-Focused Software Process Improvement, 2023. [camera_ready.pdf]

[3] Yoshiki Higo, Akira Saitoh, Goro Yamada, Tatsuya Miyake, Shinji Kusumoto, and Katsuro Inoue, "A Pluggable Tool for Measuring Software Metrics from Source Code," In Proc. of the Joint Conference of the 21th International Workshop on Software Measurement and the 6th International Conference on Software Process and Product Measurement (IWSM/MENSURA2011), pp.3-12, November 2011. [mensura2011.pdf]

国内会議(査読付き)

[1] 吉岡遼, 肥後芳樹, 柗本真佑, 楠本真二, 伊藤信治, Phan Thi Thanh Huyen, "例外処理を検査するテストが実行経路に基づく欠陥限局手法に与える影響の調査," ソフトウェアエンジニアリングシンポジウム2023, 020 - 029, 2023年8月. [camera-ready.pdf]

[2] 山田吾郎, 齋藤晃, 三宅達也, 肥後芳樹, 楠本真二, 井上克郎, "メトリクス計測Eclipseプラグインの開発," ソフトウェアエンジニアリング最前線2009, page 193, 2009年9月.

研究会・全国大会等

[1] 石坂 颯大, 柗本 真佑, 楠本 真二, 安田 和矢, 伊藤 信治, 張潘タンフエン, "LLMを用いた自動プログラム修正における正答率の予測に向けて," 電子情報通信学会技術研究報告, volume 124, number 429, pages 134-139, 2025年3月. [draft.pdf]

[2] 堀 翔太, 柗本 真佑, 肥後 芳樹, 楠本 真二, 安田 和矢, 伊藤 信治, 張潘 タンフエン, "ChatGPTを用いたプログラム修正におけるソースコードの意味的情報の影響," 電子情報通信学会技術研究報告, volume 123, number 414, pages 144-149, 2024年3月. [sho-hori_202403_sigss.pdf]