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| 入山, "SBFLの精度向上を目的とした実行経路に基づくテストのグループ化," 修士学位論文, 大阪大学, 2023年. | |
| ID | 784 |
| 分類 | 学位論文 |
| タグ | |
| 表題 (title) |
SBFLの精度向上を目的とした実行経路に基づくテストのグループ化 |
| 表題 (英文) |
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| 著者名 (author) |
入山 優 |
| 英文著者名 (author) |
Masashi Iriyama |
| キー (key) |
Masashi Iriyama |
| 学校名 (school) |
大阪大学 |
| 出版社住所 (address) |
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| 刊行月 (month) |
2 |
| 出版年 (year) |
2023 |
| URL |
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| 付加情報 (note) |
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| 注釈 (annote) |
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| 内容梗概 (abstract) |
デバッグ作業の負担軽減を目的として，欠陥限局に関する研究が盛んに行われている．欠陥限局とはプログラム中の欠陥箇所を特定する技術である．Spectrum-Based Fault Localization（以下SBFL）は欠陥限局の手法の1つで，各テストケースの成否と実行経路をもとに欠陥箇所を特定する．しかし，SBFLはプログラム中に欠陥箇所が1つしかないという仮定のもとに設計されているため，複数の欠陥箇所が存在する場合，各欠陥箇所を高い精度で特定できない．そこで，複数の欠陥箇所を同時に特定するのではなく，各欠陥箇所を個別に特定した後にその結果を組み合わせることで欠陥限局の精度を向上できないかと考えた．本研究では，実行経路に基づいてテストケースをグループ化する手法を提案する．実行経路が類似している失敗テストは同じ欠陥箇所を実行している可能性が高く，その欠陥箇所の特定に役立つ．また，失敗テストと実行経路が類似している成功テストはテストの成否を分ける情報を持っているため，欠陥限局の精度向上に役立つ．実行経路が類似した失敗テストをグループ化し，グループごとに失敗テストと実行経路が類似した成功テストを用いて欠陥箇所を特定する．各グループで得られた結果を組み合わせることで，欠陥限局の精度向上を目指す．データセットDefects4Jに含まれる78個の欠陥を対象に実験を行い，提案手法はSBFLより高い精度で欠陥限局できることを確認した．提案手法により21.8%の欠陥箇所において精度が向上し，最大で1.3%向上した．28.9%の欠陥箇所において精度が低下したが，精度の低下は最大でも0.12%に抑えられた． |
| 論文電子ファイル | m-iriyam_202302_mthesis.pdf (application/pdf) [一般閲覧可] |
| BiBTeXエントリ |
@masterthesis{id784,
title = {SBFLの精度向上を目的とした実行経路に基づくテストのグループ化},
author = {入山 優},
school = {大阪大学},
month = {2},
year = {2023},
}
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