畑, 水野, 菊野, "開発履歴メトリクスを用いた細粒度な Fault-prone モジュール予測," 情報処理学会論文誌, 53(6), 1635–1643 2012年6月.
ID 211
分類 論文誌
タグ fault fine-grained historical metrics modules prediction
表題 (title) 開発履歴メトリクスを用いた細粒度な Fault-prone モジュール予測
表題 (英文) Fault Prediction on Fine-Grained Modules Based on Historical Metrics
著者名 (author) 畑 秀明,水野 修,菊野 亨
英文著者名 (author) Hideaki Hata,Osamu Mizuno,Tohru Kikuno
キー (key) Hideaki Hata,Osamu Mizuno,Tohru Kikuno
定期刊行物名 (journal) 情報処理学会論文誌
定期刊行物名 (英文) Trans. of Information Processing Society of Japan
巻数 (volume) 53
号数 (number) 6
ページ範囲 (pages) 1635–1643
刊行月 (month) 6
出版年 (year) 2012
Impact Factor (JCR)
URL https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/ej/?action=pages_view_main&active_action=repository_view_main_item_detail&item_id=82616&item_no=1&page_id=13&block_id=8
付加情報 (note)
注釈 (annote)
内容梗概 (abstract)
論文電子ファイル 利用できません.
BiBTeXエントリ
@article{id211,
         title = {開発履歴メトリクスを用いた細粒度な Fault-prone モジュール予測},
        author = {畑 秀明 and 水野 修 and 菊野 亨},
       journal = {情報処理学会論文誌},
        volume = {53},
        number = {6},
         pages = {1635–1643},
         month = {6},
          year = {2012},
}