国内会議(査読付き)

[1] 堀直哉, 岡野浩三, 楠本真二, "モデル検査技術を用いたインバリアント被覆テスト ケースの自動生成によるDaikon出力の改善," 松下 誠, 川口 真司(編), ソフトウェア工学の基礎XV 日本ソフトウェア科学会FOSE2008, pages 41-50, 2008年11月.