東誠, 肥後芳樹, 早瀬康裕, 松下誠, 井上克郎, "コードクローンの複雑度メトリクスを用いた開発者の特徴分析," ソフトウェアエンジニアリング最前線2008, pp. 103-106 2008年9月.
ID 53
分類 国内会議(査読付き)
タグ extracting developers’ characteristics complexity metric values code clones
表題 (title) コードクローンの複雑度メトリクスを用いた開発者の特徴分析
表題 (英文) Extracting Developers’ Characteristics from Complexity Metric Values on Code Clones
著者名 (author) 東誠,肥後芳樹,早瀬康裕,松下誠,井上克郎
英文著者名 (author) Makoto Higashi,Yoshiki Higo,Yasuhiro Hayase,Makoto Matsushita,Katsuro Inoue
編者名 (editor)
編者名 (英文)
キー (key) Makoto Higashi,Yoshiki Higo,Yasuhiro Hayase,Makoto Matsushita,Katsuro Inoue
書籍・会議録表題 (booktitle) ソフトウェアエンジニアリング最前線2008
書籍・会議録表題(英文)
巻数 (volume)
号数 (number)
ページ範囲 (pages) 103-106
組織名 (organization) 情報処理学会
出版元 (publisher)
出版元 (英文)
出版社住所 (address)
刊行月 (month) 9
出版年 (year) 2008
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注釈 (annote)
内容梗概 (abstract)
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BiBTeXエントリ
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